OmniScan X3是OmniScan家族中的最新成員，于2019年11月正式上市，是OmniScanMX2全面升級替代型號，能迅速進行檢測，并同時生成材料內部結構的精確、詳細的橫截面圖像。相控陣技術使用使用多個超聲晶片和電子時間延遲，產生可轉向、可掃描、可掃查，以及可電子聚焦的聲束，進行快速檢測、完整數據存儲以及多角度檢測。利用相控陣技術進行的檢測，測量精確、結果可靠。這款儀器在硬件及軟件參數上進行了全面升級優(yōu)化，并且新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢
